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dc.creatorAnjos, Virgílio de Carvalho dos-
dc.creatorPires, Samuel Machado-
dc.date.accessioned2019-04-10T19:16:11Z-
dc.date.available2019-03-18-
dc.date.available2019-04-10T19:16:11Z-
dc.date.issued2008-
dc.citation.issueXIVpt_BR
dc.identifier.urihttps://repositorio.ufjf.br/jspui/handle/ufjf/9719-
dc.description.abstract-pt_BR
dc.description.resumoNeste projeto desenvolvemos um método de medida de índice de refração de sólidos onde utilizamos um interferômetro de Michelson. O equipamento foi desenvolvido utilizando um interferômetro existente no Laboratório de Espectroscopia de Materiais do Departamento de Física da UFJF. Como fonte de excitação utilizamos um laser de Hélio-neônio o qual foi usado para medir o índice de refração de uma amostra de quartzo. O resultado obtido, n= 1,4 +- 0,1 abrange o valor encontrado na literatura (n=1,4585). A incerteza relativa é de aproximandamente 7,14%, que é um valor alto para medidas de índice de refração. Grande parte do erro calculado se deve ao fato do ângulo de rotação de uma haste metálica ser obtido por meio de medidas indiretas, medidos com uma régua com precisão de 1mm. No tocante à fotoacústica apresentaremos o estágio atual da montagem que está sendo desenvolvida no nosso Laboratório.pt_BR
dc.languageporpt_BR
dc.publisherUniversidade Federal de Juiz de Fora (UFJF)pt_BR
dc.publisher.countryBrasilpt_BR
dc.publisher.initialsUFJFpt_BR
dc.relation.ispartofXIV Seminário de Iniciação Científica / IV Seminário de Iniciação Científica Jrpt_BR
dc.rightsAcesso Abertopt_BR
dc.subject-pt_BR
dc.subject.cnpqCNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRApt_BR
dc.titleEstudo de propriedades termo-ópticas de semicondutores e polímeros via espectroscopia fotoacústica e medidas de capacidade térmicapt_BR
dc.typeArtigo de Eventopt_BR
Aparece en las colecciones: Seminário de Iniciação Científica



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